IEC 60747-14-3-ed.2.0

Annotation of standard text IEC 60747-14-3-ed.2.0 :

IEC 60747-14-3:2009 specifies requirements for semiconductor pressure sensors measuring absolute, gauge or differential pressures. The major technical change with regard to the previous edition is the addition of a new subclause 5.9 (measuring method of linearity). This publication should be read in conjunction with IEC 60747-1:2006. La CEI 60747-14-3:2009 specifie les exigences pour les capteurs de pression a semiconducteurs mesurant les pressions absolues, manometriques ou differentielles. Les modifications techniques majeures par rapport a ledition precedente sont les suivantes: ajout dun nouveau paragraphe 5.9 (methode de mesure de la linearite). Cette publication doit etre lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.