IEC 60444-2-ed.1.0

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

NORMA vydaná dňa 1.1.1980

Rusky -
Elektronické PDF (51.30 EUR)

Rusky -

Tlačené (51.30 EUR)

Rusky -

CD-ROM (52.90 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Elektronické PDF (51.30 EUR)

Anglicky a francúzsky -

Tlačené (51.30 EUR)

Anglicky a francúzsky -

CD-ROM (52.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 60444-2-ed.1.0
Dátum vydania normy: 1.1.1980
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Anotácia textu normy IEC 60444-2-ed.1.0 :

Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. Decrit une methode de mesure de la capacite dynamique des quartz dans une gamme de frequences de 1 MHz a 125 MHz avec une erreur totale de mesure de lordre de 5%.