GOST R 8.698-2010

State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer

NORMA vydaná dňa 1.9.2010

Rusky -
Elektronické PDF (144.30 EUR)

Rusky -

Tlačené (144.30 EUR)

Anglicky a rusky -

Elektronické PDF (835.00 EUR)

Anglicky a rusky -

Tlačené (835.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GOST R 8.698-2010
Dátum vydania normy: 1.9.2010
Počet strán: 38
Približná hmotnosť: 114 g (0.25 libier)
Krajina: Ruská technická norma
Kategória: Technické normy GOST