Epitaxial structures. Method for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
NORMA vydaná dňa 1.3.2025
Označenie normy: GOST R 71334-2024
Dátum vydania normy: 1.3.2025
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Ruská technická norma
Kategória: Technické normy GOST