GB/T 6624-1995

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

NORMA vydaná dňa 18.4.1995

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (206.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 6624-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 18.4.1995
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB