GB/T 6620-2009

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (244.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 6620-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB