GB/T 6620-1995

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NORMA vydaná dňa 18.4.1995

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (298.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 6620-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 18.4.1995
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB