NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 6617-2009

Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (198.90 EUR)
Anglicky a čínsky -
Tlačené (198.90 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 6617-2009
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategória: Technické normy GB