GB/T 6617-1995

Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NORMA vydaná dňa 18.4.1995

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (341.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 6617-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 18.4.1995
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB