GB/T 6616-2009

Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (341.30 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (341.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 6616-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB