
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16: Particle impact noise detection(PIND)
NORMA vydaná dňa 31.10.2025
Designation standards: GB/T 4937.16-2025
Note: K dispozici od: květen 2026
Publication date standards: 31.10.2025
Country: Chinese technical standard
Kategória: Technické normy GB