
Fine ceramics—Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
NORMA vydaná dňa 25.5.2026
Označenie normy: GB/T 47625-2026
Poznámka: K dispozici od: prosinec 2026
Dátum vydania normy: 25.5.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB