
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
NORMA vydaná dňa 27.2.2026
Označenie normy: GB/T 47239.9-2026
Dátum vydania normy: 27.2.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB