
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8: Test method for stretchability, flexibility and stability of flexible resistive memory
NORMA vydaná dňa 27.2.2026
Označenie normy: GB/T 47239.8-2026
Poznámka: K dispozici od: září 2026
Dátum vydania normy: 27.2.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB