
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates
NORMA vydaná dňa 28.8.2026
Označenie normy: GB/T 47239.1-2026
Poznámka: K dispozici od: březen 2027
Dátum vydania normy: 28.8.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB