GB/T 47082-2026

Test method for stacking faults of polished monocrystalline silicon carbide wafers

NORMA vydaná dňa 28.1.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (170.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 47082-2026
Dátum vydania normy: 28.1.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB