
Surface chemical analysis—Depth profiling—Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
NORMA vydaná dňa 28.1.2026
Označenie normy: GB/T 47073-2026
Dátum vydania normy: 28.1.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB