GB/T 46717-2025

Semiconductor devices—Metallization stress void test

NORMA vydaná dňa 31.10.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (380.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 46717-2025
Dátum vydania normy: 31.10.2025
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB