GB/T 46717-2025

Semiconductor devices—Metallization stress void test

NORMA vydaná dňa 31.10.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (372.70 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 46717-2025
Publication date standards: 31.10.2025
Country: Chinese technical standard
Kategória: Technické normy GB