GB/T 45770-2025

Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement

NORMA vydaná dňa 30.6.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (541.70 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (541.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 45770-2025
Dátum vydania normy: 30.6.2025
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB