GB/T 45720-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

NORMA vydaná dňa 30.5.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (487.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 45720-2025
Dátum vydania normy: 30.5.2025
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB