GB/T 45718-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

NORMA vydaná dňa 30.5.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (388.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 45718-2025
Dátum vydania normy: 30.5.2025
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB