GB/T 45718-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

NORMA vydaná dňa 30.5.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 45718-2025
Note: K dispozici od: září 2025
Publication date standards: 30.5.2025
Country: Chinese technical standard
Kategória: Technické normy GB