GB/T 45716-2025

Semiconductor devices—Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)

NORMA vydaná dňa 30.5.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (316.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 45716-2025
Dátum vydania normy: 30.5.2025
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB