GB/T 45716.1-2026

Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)—Part 1: Fast bias-temperature instability test for MOSFETs

NORMA vydaná dňa 30.4.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (477.20 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (477.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 45716.1-2026
Dátum vydania normy: 30.4.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB