
Three dimensional integrated circuits—Part 3Model and measurement methods of through-silicon via
NORMA vydaná dňa 30.7.2026
Označenie normy: GB/T 43536.3-2026
Poznámka: K dispozici od: únor 2027
Dátum vydania normy: 30.7.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB