GB/T 42709.35-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices

NORMA vydaná dňa 30.7.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (509.40 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (509.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 42709.35-2026
Poznámka: K dispozici od: únor 2027
Dátum vydania normy: 30.7.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB