
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
NORMA vydaná dňa 30.4.2026
Označenie normy: GB/T 42709.3-2026
Poznámka: K dispozici od: listopad 2026
Dátum vydania normy: 30.4.2026
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB