
Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
NORMA vydaná dňa 12.10.2022
Označenie normy: GB/T 41805-2022
Dátum vydania normy: 12.10.2022
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB