GB/T 41751-2022

Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers

NORMA vydaná dňa 12.10.2022

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (194.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 41751-2022
Dátum vydania normy: 12.10.2022
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB