GB/T 4058-2009

Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (452.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 4058-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB