GB/T 4058-1995

Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers

NORMA vydaná dňa 18.4.1995

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (376.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 4058-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 18.4.1995
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB