
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
NORMA vydaná dňa 7.6.2018
Označenie normy: GB/T 36474-2018
Dátum vydania normy: 7.6.2018
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB