
Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry
NORMA vydaná dňa 29.12.2017
Označenie normy: GB/T 35306-2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 29.12.2017
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB