GB/T 32651-2016

Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry

NORMA vydaná dňa 25.4.2016

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (250.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 32651-2016
Dátum vydania normy: 25.4.2016
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB