GB/T 32495-2016

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon

NORMA vydaná dňa 24.2.2016

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (319.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 32495-2016
Dátum vydania normy: 24.2.2016
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB