GB/T 32281-2015

Test method for measuring oxygen, carbon, boron and phosphorus in solar silicon wafers and feedstock by secondary ion mass spectrometry

NORMA vydaná dňa 10.12.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (205.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 32281-2015
Dátum vydania normy: 10.12.2015
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB