GB/T 32280-2022

Test method for warp and bow of silicon wafers—Automated non-contact scanning method

NORMA vydaná dňa 9.3.2022

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (290.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 32280-2022
Dátum vydania normy: 9.3.2022
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB