GB/T 32280-2015

Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method

NORMA vydaná dňa 10.12.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (504.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 32280-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2015
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB