Test method for thickness and fltaness of monocrystalline silicon carbide wafers
NORMA vydaná dňa 1.8.2025
Označenie normy: GB/T 32278-2025
Poznámka: K dispozici od: únor 2026
Dátum vydania normy: 1.8.2025
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB