GB/T 32189-2015

Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope

NORMA vydaná dňa 10.12.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (259.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 32189-2015
Dátum vydania normy: 10.12.2015
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB