GB/T 30869-2014

Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell

NORMA vydaná dňa 24.7.2014

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 30869-2014
Dátum vydania normy: 24.7.2014
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB