GB/T 30867-2014

Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers

NORMA vydaná dňa 24.7.2014

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (175.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 30867-2014
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 24.7.2014
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB