GB/T 30866-2014

Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers

NORMA vydaná dňa 24.7.2014

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (154.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 30866-2014
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 24.7.2014
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB