GB/T 30860-2014

Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells

NORMA vydaná dňa 24.7.2014

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (308.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 30860-2014
Dátum vydania normy: 24.7.2014
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB