GB/T 29849-2013

Test method for measuring surface metallic contamination of silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry

NORMA vydaná dňa 12.11.2013

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (224.60 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (224.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 29849-2013
Dátum vydania normy: 12.11.2013
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB