GB/T 26068-2010

Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance

NORMA vydaná dňa 10.1.2011

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (1073.70 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (1073.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 26068-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.1.2011
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB