GB/T 24582-2009

Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (344.50 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (344.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 24582-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB