GB/T 24581-2009

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for - impurities

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (474.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 24581-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB