GB/T 24578-2024

Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

NORMA vydaná dňa 24.7.2024

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (414.10 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (414.10 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24578-2024
Publication date standards: 24.7.2024
Country: Chinese technical standard
Kategória: Technické normy GB