GB/T 24578-2015

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

NORMA vydaná dňa 10.12.2015

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (344.50 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (344.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 24578-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2015
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB