GB/T 24578-2009

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (485.60 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (485.60 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24578-2009
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategória: Technické normy GB