GB/T 24578-2009

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (517.30 EUR)

Anglicky a čínsky -

Tlačené (517.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 24578-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB